![LF-DTA 3320 差热分析仪](http://pursueleef.com/images/product/175.jpg)
LF-DTA 3320 差热分析仪
- 产品介绍
仪器特点:
差热分析是在程序控制温度下,测量物质与参比物之间的温度差与温
度关系的一种技术。 差热分析曲线是描述样品与参比物之间的温度(△T)
随温度或时间的变化关系。 在 DTA 试验中,样品温度的变化是由于相转变或反应的吸热或放热效应引起的。如:相转变,熔化,结晶结构的转变,沸腾, 升华,蒸发,脱氢反应,断裂或分解反应,氧化或还原反应,晶格结构的破坏和其他化学反应。
技术参数:
1. 温度范围: 室温~1150℃
2. 量程范围: 0~±2000μ V
3. DTA 精度: 0.01μ V
4. 升温速率: 0.1~80℃/min
5.温度分辨率: 0.1℃
6. 温度准确度: ±0.1℃
7. 温度重复性: ±0.1℃
8.温度控制: 升温:程序控制 可根据需要进行参数的调整恒温:程序控制 恒温时间任意设定
9.炉体结构: 炉体采用上开盖式结构,代替了传统的升降炉体,精度高,易于操作
10.气氛控制: 内部程序自动切换
11.数据接口: 标准USB 接口 配套数据线和操作软件
12.显示方式: 24bit 色 7 寸 LCD 触摸屏显示
13.参数标准: 配有标准物,带有一键校准功能,用户可自行对温度进行校正
14.基线调整: 用户可通过基线的斜率和截距来调整基线
15.工作电源: AC 220V 50Hz
通讯:USB 双向通信
差热分析是在程序控制温度下,测量物质与参比物之间的温度差与温
度关系的一种技术。 差热分析曲线是描述样品与参比物之间的温度(△T)
随温度或时间的变化关系。 在 DTA 试验中,样品温度的变化是由于相转变或反应的吸热或放热效应引起的。如:相转变,熔化,结晶结构的转变,沸腾, 升华,蒸发,脱氢反应,断裂或分解反应,氧化或还原反应,晶格结构的破坏和其他化学反应。
1. 温度范围: 室温~1150℃
2. 量程范围: 0~±2000μ V
3. DTA 精度: 0.01μ V
4. 升温速率: 0.1~80℃/min
5.温度分辨率: 0.1℃
6. 温度准确度: ±0.1℃
7. 温度重复性: ±0.1℃
8.温度控制: 升温:程序控制 可根据需要进行参数的调整恒温:程序控制 恒温时间任意设定
9.炉体结构: 炉体采用上开盖式结构,代替了传统的升降炉体,精度高,易于操作
10.气氛控制: 内部程序自动切换
11.数据接口: 标准USB 接口 配套数据线和操作软件
12.显示方式: 24bit 色 7 寸 LCD 触摸屏显示
13.参数标准: 配有标准物,带有一键校准功能,用户可自行对温度进行校正
14.基线调整: 用户可通过基线的斜率和截距来调整基线
15.工作电源: AC 220V 50Hz
通讯:USB 双向通信